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Strumentazione per caratterizzazione e metrologia semiconduttori

Elexind gestisce la distribuzione europea di un ampio range di strumentazione per la misura di varie grandezze fisiche nell’ambito dei semiconduttori: temperatura in processo, resistività superficiale (sheet resistance con sonda a 4 punte), profilo di resistività in strati epitassiali, profilo geometrico di planarità, strumentazione metrologica (dimensioni trenches, spessore film ultrasottili, imaging contactless del chip all’interno del package), standard di calibrazione certificati NIST.